L-NESS

Laboratory for Epitaxial Nanostructures on Silicon and Spintronics

Affiliated Institutions

Valeria Mondiali

PhD student

Contact

e-mail:
tel:Como: +39 031 332 7307
fax:Como: +39 031 332 7617
address:Politecnico di Milano
Polo di Como
Via Anzani 42
22100 Como
Italy
office:Via Anzani T.02

Valeria Mondiali

Main Research Interest

Publications

  1. M. R. Barget, M. Lodari, V. Mondiali, D. Chrastina, M. Bollani, and E. Bonera: Tensile strain in Ge membranes induced by SiGe nanostressors, Appl. Phys. Lett. 109, 133109 (2016).
  2. M. Bollani, D. Chrastina, R. Ruggeri, G. Nicotra, L. Gagliano, E. Bonera, V. Mondiali, A. Marzegalli, F. Montalenti, C. Spinella, and L. Miglio: Anisotropic extended misfit dislocations in overcritical SiGe films by local substrate patterning, Nanotechnology 27, 425301 (2016).
  3. V. Mondiali, M. Lodari, M. Borriello, D. Chrastina, and M. Bollani: Top-down SiGe nanostructures on Ge membranes realized by e-beam lithography and wet etching, Microelectron. Eng. 153, 88 (2016).
  4. M. Bollani, D. Chrastina, L. Gagliano, L. Rossetto, D. Scopece, M. Barget, V. Mondiali, J. Frigerio, M. Lodari, F. Pezzoli, F. Montalenti, and E. Bonera: Local uniaxial tensile strain in germanium up to 4% by epitaxial nanostructures, Appl. Phys. Lett. 107, 083101 (2015).
  5. V. Mondiali, M. Lodari, D. Chrastina, M. Barget, E. Bonera, and M. Bollani: Micro and nanofabrication of SiGe/Ge bridges and membranes by wet-anisotropic etching, Microelectron. Eng. 141, 256 (2015).
  6. V. Mondiali, M. Bollani, D. Chrastina, R. Rubert, G. Chahine, M. I. Richard, S. Cecchi, L. Gagliano, E. Bonera, T. Schülli, and L. Miglio: Strain release management in SiGe/Si films by substrate patterning, Appl. Phys. Lett. 105, 242103 (2014).
  7. J. Frigerio, M. Lodari, D. Chrastina, V. Mondiali, G. Isella, and M. Bollani: Metastability and relaxation in tensile SiGe on Ge(001) virtual substrates, J. Appl. Phys. 116, 113507 (2014).
  8. V. Mondiali, M. Bollani, S. Cecchi, M.-I. Richard, T. Schülli, G. Chahine, and D. Chrastina: Dislocation engineering in SiGe on periodic and aperiodic Si(001) templates studied by fast scanning X-ray nanodiffraction, Appl. Phys. Lett. 104, 021918 (2014).
  9. M. Bollani, D. Chrastina, M. Fiocco, V. Mondiali, J. Frigerio, L. Gagliano, and E. Bonera: Lithographically-defined low dimensional SiGe nanostripes as silicon stressors, J. Appl. Phys. 112, 094318 (2012).
  10. A. Torti, V. Mondiali, A. Cattoni, M. Donolato, E. Albisetti, A. M. Haghiri-Gosnet, P. Vavassori, and R. Bertacco: Single particle demultiplexer based on domain wall conduits, Appl. Phys. Lett. 101, 142405 (2012).

Copyright © 2010 L-NESS Como

Last updated: 25th May 2017